應(yīng)用領(lǐng)域
產(chǎn)品中心
型號(hào):AWL系列
型號(hào):AWL046
型號(hào):AMS系列
型號(hào):M-SIM6000
型號(hào):IRX50
型號(hào):IRX60
技術(shù)資訊
AWL系列是舜宇SOPTOP推出的半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng),集晶圓自動(dòng)搬運(yùn)與光學(xué)檢測(cè)于一體,廣泛應(yīng)用于4-12英寸晶圓的前后道工藝質(zhì)量控制。該系統(tǒng)通過(guò)高精度光學(xué)成像與智能算法,實(shí)現(xiàn)對(duì)晶圓表面顆粒、劃痕、污染等缺陷的精準(zhǔn)識(shí)別,是提升晶圓良率的關(guān)鍵設(shè)備。一、半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)組成與核心技術(shù)1.自動(dòng)化搬運(yùn)系統(tǒng)采用EFEM架構(gòu),包含LoadPort、Aligner及Robot三大核心部件,支持FOUP、FOSB等多種晶圓卡匣類(lèi)型,可安全傳送翹曲晶圓。機(jī)械手采用鋁鎂合金材質(zhì),配備抗靜...
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晶圓搬運(yùn)機(jī)是半導(dǎo)體制造過(guò)程中用于自動(dòng)化搬運(yùn)晶圓(硅片)的關(guān)鍵設(shè)備,其核心作用是在潔凈車(chē)間內(nèi),將晶圓從一個(gè)工藝設(shè)備或存儲(chǔ)位置安全、準(zhǔn)確、有效地轉(zhuǎn)運(yùn)至另一個(gè)位置,貫穿晶圓制造的前道(如光刻、刻蝕)和后道(如封裝、測(cè)試)全流程。為半導(dǎo)體制造設(shè)計(jì)的自動(dòng)化設(shè)備,通過(guò)精密機(jī)械結(jié)構(gòu)與智能控制系統(tǒng),在不同工藝設(shè)備、存儲(chǔ)單元之間實(shí)現(xiàn)晶圓的微米級(jí)精度搬運(yùn)與傳輸。核心功能與技術(shù)原理高精度搬運(yùn)與定位晶圓搬運(yùn)機(jī)通過(guò)多軸機(jī)械臂實(shí)現(xiàn)晶圓在真空腔室或潔凈間內(nèi)的準(zhǔn)確傳輸。機(jī)械臂配備高精度角度傳感器和激光測(cè)距技...
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在半導(dǎo)體制造、光電子器件研發(fā)及新型顯示技術(shù)等領(lǐng)域,晶圓缺陷光學(xué)檢測(cè)設(shè)備憑借其高精度、高效率和非破壞性檢測(cè)優(yōu)勢(shì),成為保障產(chǎn)品質(zhì)量的核心工具。其應(yīng)用范圍已從傳統(tǒng)半導(dǎo)體制造延伸至汽車(chē)電子、航空航天等高級(jí)領(lǐng)域,為現(xiàn)代科技產(chǎn)業(yè)提供關(guān)鍵技術(shù)支撐。一、半導(dǎo)體制造:從晶圓到芯片的全流程守護(hù)在半導(dǎo)體制造中,晶圓缺陷光學(xué)檢測(cè)設(shè)備貫穿硅片加工、光刻、刻蝕等關(guān)鍵環(huán)節(jié)。例如,在12英寸晶圓生產(chǎn)線(xiàn)中,設(shè)備通過(guò)明場(chǎng)/暗場(chǎng)照明系統(tǒng)與高分辨率相機(jī)結(jié)合,可檢測(cè)出直徑小于50納米的顆粒缺陷,檢出率達(dá)99%以上。針...
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晶圓缺陷光學(xué)檢測(cè)設(shè)備是半導(dǎo)體制造中的關(guān)鍵質(zhì)量控制工具,通過(guò)高分辨率光學(xué)成像和智能算法識(shí)別晶圓表面的顆粒、劃痕、污染等缺陷。經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期使用,總結(jié)以下核心心得:一、設(shè)備操作要點(diǎn)開(kāi)機(jī)準(zhǔn)備階段至關(guān)重要。需提前30分鐘預(yù)熱設(shè)備,使光學(xué)系統(tǒng)溫度穩(wěn)定,避免熱漂移影響成像精度。每次使用前執(zhí)行自動(dòng)校準(zhǔn)程序,檢查光源強(qiáng)度、相機(jī)對(duì)焦和載臺(tái)水平度。若環(huán)境溫濕度波動(dòng)較大(超過(guò)±2℃或±5%RH),建議延長(zhǎng)預(yù)熱時(shí)間至1小時(shí)。樣品放置需格外謹(jǐn)慎。使用真空吸筆或?qū)S描囎尤》啪A,避...
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在半導(dǎo)體制造、新能源材料研發(fā)及精密加工領(lǐng)域,微觀(guān)結(jié)構(gòu)的觀(guān)測(cè)精度直接決定了產(chǎn)品質(zhì)量與工藝優(yōu)化效率。傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡受限于固定焦深與單一視角,難以應(yīng)對(duì)復(fù)雜表面形貌的精準(zhǔn)分析。而DMS10003D超景深數(shù)碼顯微鏡憑借其突破性的光學(xué)設(shè)計(jì)與智能算法,實(shí)現(xiàn)了從微米級(jí)缺陷檢測(cè)到納米級(jí)形貌重建的全場(chǎng)景覆蓋,重新定義了微觀(guān)觀(guān)測(cè)的精度標(biāo)準(zhǔn)。一、光學(xué)系統(tǒng)革新:大景深與超高分辨率的協(xié)同突破DMS1000的核心優(yōu)勢(shì)在于其4KCMOS傳感器與APO遠(yuǎn)心物鏡的深度融合。通過(guò)自主研發(fā)的遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng),設(shè)備在20...
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